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安柏来科学仪器（上海）有限公司 
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| 供应美国博曼（Bowman）BA-100 Optics XRF测厚仪 |
产品描述：
美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。
Bowman BA-100 Optics 机型采用业界*先进的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应*严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。
优秀的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的*佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
稳定的X射线管
● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点
● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央
● 长寿命的射线管灯丝
● 独有的预热和ISO温度适应程序
多毛细管聚焦光学结构
● 显著提高X射线信号强度
● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
● 小于100um直径的测量斑点
● 经过验证，接近完美的测量精度
应用领域：
常见的镀层应用:
PCB行业
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引线框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半导体行业
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
线材
Sn/Cu
珠宝、贵金属
10,14,18Kt
元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等 |
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